雷射干涉儀定位

API XD雷射干涉儀可以同時量測六個自由度包括定位精度、重複定位精度、直線度及角度﹝Pitch、Yaw﹞。用於工具機和三次元的校正。 加入詢價. 處理中請稍候.

2022年2月10日 — 測量和定位範圍：25 mm x 25 mm x 5 mm 解析度：0.1 nm · 精度最高的3D多感測器定位和測量系統 · 控制採用在系統上易於使用的腳本語言 · 定製探針系統，如雷 ...

雷射干涉儀使用上可以做到[2]：(1)線性距. 離之測量、(2)角度之測量、(3)真直度校正. 測量、(4)垂直度量測、(5)旋轉量測。另一. 方面，雷射干涉儀也存在的一些需解決的.

雷射干涉儀與校驗系統 ... 在雷射干涉量測系統、先進電子量測系統、高準確度光學元件、複雜單晶光學（CMO）和光電系統的設計與製造領域，是德科技是享譽全球的領導廠商，其 ...

XL-80雷射量測系統是用於工具機，三次元量測儀以及其他定位系統，全面評估的最佳工具，該系統精度0.5ppm(百萬分之一)，是目前其他系統不可比擬的，並符合國際標準的 ...

此架設使用XL-80 雷. 射、XR20-W 旋轉軸校正儀和角度干涉儀。 XR20-W 是一台小型、輕量、無線裝置，並可於±1 弧秒內. 收集旋轉定位資料 ...

線性定位量測的精確度端視已知雷射光束的波長精確度而定。雷射光束的運算波長視通過空氣中的折射率而定，而這會隨氣溫、氣壓與相對濕度改變。因此，光束 ...

✓ 使用穩頻雷射干涉儀，具備即時追蹤功能. ✓ 英國NPL與德國PTB二家國家實驗室 ... ✓ 直線定位誤差量測. ✓ 空間座標量測. ✓ 直線度(Straightness)誤差量測. ✓ 俯仰 ...